了解任何产品前，都需要多多了解它的特点，了解产品给自己带来的好处，了解适不适合自己，所以方阻测试仪也不例外，下面我们就一起来了解一下它的特点，希望对您有帮助。
方阻测试仪是一种按照相近的行业标准和国外A.S.T.M规范，专业检测半导体薄层电阻（表面电阻）的新式仪器设备，可用来检测通常半导体器件、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜等相同物品的薄层电阻。
方阻测试仪规模性集成电路为关键中心;用标准电源和运算放大器构成高精密稳流源;带回路合理有效正常的标示电路;并搭配大型的LCD显示读值，使仪器设备具备体积小、重量较轻、外观设计美、易操控、检测速度更快、精度高的特性。
方阻测试仪采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。
采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3寸大液晶屏幕显示，
同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。
该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，
对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，
