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四探针法方阻计

简要描述:四探针法方阻计,按照硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-06-13
  • 访  问  量:5953
详细介绍
品牌ROOKO/瑞柯价格区间1万-3万
自动化度半自动产地类别国产
应用领域化工,建材,电子,纺织皮革

FT-336普通四探针电阻率/方阻测试仪

按照硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并

自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

 

四探针法方阻计广泛用于:

覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

硅晶块、晶导电性薄膜,金属薄膜,抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等

 

四探针法方阻计参数资料

1.方块电阻范围:10-2~2×103Ω/□

2.电阻率范围:10-3~2×104Ω-cm

3.测试电流范围:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

4.电流精度:±0.3%读数

5.电阻精度:≤0.5%

6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

7.测试方式: 普通单电测量

8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  耗:<30W

9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)

10.选购功能: 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台

11.测试探头:   探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

 

ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业.

专业与精致并重;与智慧之原

 

 

 


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